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探針?lè )诸?lèi)探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開(kāi)路、短路檢測探針，國內大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；B、在線(xiàn)測試探針：

PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內生產(chǎn)廠(chǎng)商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類(lèi)型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（B1ade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針（ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內的標準稱(chēng)呼100mi1，75mi1，50mi1，還有更特別的直徑只有0.19mm，主要用于在線(xiàn)電路測試和功能測試.

也稱(chēng)ICT測試和FCT測試.也是目前應用較多的一種探針.

2.界面探針（Interface Probes）非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶(hù)定做的，例如泰瑞達（Teradyne）和安捷倫（Agilent）.用于測試機臺與測試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針（MicroSeries Probes）兩個(gè)測試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes）開(kāi)關(guān)探針單一支探針有兩路電流.

5.高頻探針（Coaxial Probes）用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以?xún)鹊暮?00MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉探針（Rotator Probes）彈力一般不高，因為其穿透性本來(lái)就很強，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測試.

7.高電流探針（High Current Probes）探針直徑在

2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針（Semiconductor Probes）直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz，50Q characteristic

9.電池接觸探針（Battery and Connector Contacts）一般用于優(yōu)化接觸效果，穩定性好和壽命長(cháng).除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

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